|
型号:SN74ABT827NSRG4
|
制造商:
|
描述:IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 24SO
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT8245DW
|
制造商:
Burr Brown
|
描述:SN74ABT8245 SCAN TEST DEVICES WI
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827PW
|
制造商:
|
描述:IC BUF NON-INVERT 5.5V 24TSSOP
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT823NT
|
制造商:
|
描述:IC FF D-TYPE SNGL 9BIT 24DIP
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827NSR
|
制造商:
|
描述:IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 24SO
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827DBR
|
制造商:
|
描述:IC BUF NON-INVERT 5.5V 24SSOP
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT833DW
|
制造商:
|
描述:IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24SOIC
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT823NSR
|
制造商:
|
描述:IC FF D-TYPE SNGL 9BIT 24SO
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT823NSRG4
|
制造商:
|
描述:IC FF D-TYPE SNGL 9BIT 24SO
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827DWR
|
制造商:
|
描述:IC BUF NON-INVERT 5.5V 24SOIC
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT8245DWG4
|
制造商:
|
描述:IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827NSRE4
|
制造商:
|
描述:IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 24SO
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827NTG4
|
制造商:
|
描述:IC BUF NON-INVERT 5.5V 24DIP
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827PWR
|
制造商:
|
描述:IC BUF NON-INVERT 5.5V 24TSSOP
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT823NSRE4
|
制造商:
|
描述:IC FF D-TYPE SNGL 9BIT 24SO
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT8245DWR
|
制造商:
|
描述:IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827NT
|
制造商:
|
描述:IC BUF NON-INVERT 5.5V 24DIP
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT823DWR
|
制造商:
|
描述:IC FF D-TYPE SNGL 9BIT 20SOIC
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT8245DW
|
制造商:
|
描述:IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
|
RoHs状态:RoHS
|
|
型号:SN74ABT827PWG4
|
制造商:
|
描述:IC BUF NON-INVERT 5.5V 24TSSOP
|
RoHs状态:RoHS
|